J-RAS高壓絕緣可靠性測試機

HVUα高電圧絶縁信頼性試験裝置

離子遷移試驗裝置

型號：HVUα-1000/HVUα-2000/HVUα-3000

電化學遷移現象是指印刷布線板等原本良好的絕緣物，在施加電偏置電壓的狀態(tài)下發(fā)生的電化學現象。電子化學遷移發(fā)生、成長，電極間短路的現象。

印刷線路板等發(fā)生電子化學遷移的話會造成零件的損傷~產品的損傷，有時會產生較大的損害和損失。因此，在新材料和新產品的研究階段的可靠性評價試驗中也被作為重要的評價項目。

特點

100n秒以下的高速事件計測功能也能檢測出部分放電(可與電阻值數據同時計測)

通過CH個別電源裝載和CH個別反饋，對各樣品施加穩(wěn)定的電壓

通過CH個別電源裝載&CH個別控制，可對所有CH設定不同的外加電壓

因為沒有機械式繼電器的掃描，所以在連續(xù)測試中故障少

短路檢測電路的CH個別裝載瞬間的樣品短路也追隨

通過基于三氧化二電纜的主動保護實現低噪聲測量(測量側)

軟件可以顯示圖表和收錄數據

以5個通道為單位，可根據需求配置系統(tǒng)

J-RAS高壓絕緣可靠性測試機 

用途

?電壓元件的絕緣可靠性評價,連續(xù)功率模塊的耐壓,耐遷移印刷電路板的性能評價,其他?電壓絕緣零件的可靠性評價。